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Mini-SEM (Scanning Electron Microscope)
[제조사 : sec]

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sec SNE-4500M Mini-SEM

- 최대배율: 100,000 배 구현
- 고심도, 고해상도의 수준높은 영상제공
- EDS system 장착을 통한 성분분석 (optional)

sec SNE-3200M Mini-SEM

- 최대배율: 60,000 배 구현
- 2차전자 (SE) + 후방산란전자 (BSE) multi 장착
- EDS system 장착을 통한 성분분석 (optional)

sec SNE-3000MS Mini-SEM

- 최대배율: 60,000 배 구현
- 2차전자 (SE) Detector 장착
- 3200M 모델에서 BSE 기능을 제외시킨 가장 합리적 가격 모델

sec SNE-3000MB Mini-SEM

- 최대배율: 30,000 배 구현
- Non-coating 시료분석가능 (부도체시료)
- 반사영상 이미지 제공

sec MCM-100 Ion Sputter Coater

- 빠르고 쉬운 코팅 방식(자동진공 → 플라즈마코팅 → 진공해제)
- 저 전압 코팅으로 시료손상 없음
- Sample Loading Size - Max. 50mm


sec MCM-200 Ion Sputter Coater

- 코팅두께 신뢰성 최적화로 샘플손상 최소화
- 터치패널 디스플레이로 조작 간편
- Sample Loading Size - Max. 50mm

Bruker EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometer)

- Detector - LN2(액체질소)를 사용하지 않는 SDD Type
- 정성·정량분석, Multi-point Analysis, Line Scan, Mapping
  Report 기능 지원


 
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SNE-4500M & MCM-200 Coater Operation
 

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