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Nanotrac Wave Particle Size Analyzer 
[제조사 : Microtrac]

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Cell for Nano, Zeta
[Ordering Information]
Cat. # 제 품 명  
 Nanotrac Nanotrac Wave PSA 견적요청

Dynamic Light Scattering (동적광산란법)을 이용한
Particle Size Analyzer

Sample 입자의 브라운운동(Brown Motion)을 분석하여 입도 측정

동적광산란법을 이용하여 하나의 장비로 3가지 분석

  1. Particle Size Analysis
  2. Zeta Potential Measurement (Option)
  3. Molecular Weight Measurement (Option)


  [주요 특징]
  • 고분해능, 고신뢰성
      Heterodyne technolgy를 채용하여 기준광과 산란광을 조합하여 고신뢰성의 정보를 얻음
    Log linear scale algorithm을 채용하여 산란광 정보를 주파수로 정보로 변환하여 정확한 입도분포 측정
  • 고재현성
    Optical fiber 방식을 채용하여, 입자에 직접 laser 조사 하여, 고농도에서 저농도까지 안정적인 Data 정보 얻음
  • 획기적인 Cell 구조 (No Cuvette)
    - Sample cell 의 세척 편의성 향상 (탈착 및 교체 가능)
    - 제타전위 측정 기능의 확장
    - 온도조절 기능 추가 (5 ~ 90℃)
  • 온도조절기능 내장
    Peltier 소자를 내장하여 정확한 온도제어
  • 분자량 측정
    Sample 농도를 조정하여 정적광산란법에 따른 계측을 실행하고, Debye plot을 이용하여 절대분자량과 제2비리얼 계수를 계산
 

 
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Particle Size Analyzer - Nanotrac Wave
 

[SPECIFICATION]    
 Model    Nanotrac Wave
 Method   Dynamic Light Scttering (동적광산란법)
 Measuring range   입도범위: 0.8 ~ 6,500 nm
 제타전위: - 200 ~ +200 mV
 분자량: 1kDa ~ 20 MDa
 Temperature range  5 ~ 90℃
 Laser source  반도체 laser 780 nm
 Power  3 mW nominal
 Detection system  Silicon Photo Diode
 Sample capacity  0.05 ~ 2.0 g
 Sample cell module  Nano, Zeta, Folw thru cell
 Dry system  Wet, dry sample 모두 측정 (optional)
 Typical analysis time  10 ~ 1,800 sec.
 Dimensions  355 x 381 x 330 mm (W x D x H)
 Weight  15 kg


[Principle of Nanotrac Wave]  
①Brown Motion
  • 브라운 운동: 입자가 수 um이하의 미립자가 되면 용매의 분자운동에 의해서 영향을 받아 입자가 운동하는 것을 말함
  • 입자의 운동 속도는 입자의 크기에 따라 달라지며, 작은 입자는 빠르게, 큰 입자는 천천히 움직임
  • 이때 Laser 광을 조사하면, 그 속도에 따라서 위상이 다른 빛의 산란이 일어남 (도플러현상 = Doppler shift)

②Heterodyne Technology  
  • 고신뢰성 DATA 실현 - Heterodyne Technology 채용
    - 기준광과 산란광을 조합하여 고신뢰성 정보를 얻는 Heterodyne 법을 채용
    - 미약한 광 산란정보를 그대로 전기시호로 변환하여 증폭
  • 단시간에 고신뢰성, 고분해능 실현
    - Log Liner Scale Algroithm 채용
    - 고속 FFT (Frequency Fourier Transform) 기술을 이용하여 각 입자경의 정보를 주파수 성분으로 구분한 분포로 변환하여 정확한 입도분포를 획득

③Optical Fiber  
  • Optical fiber 에서 입자에 직접 Laser를 조사
    (직접겁출방식)
  • Noise를 저감하고, 후방산란광을 고효율로 검출가능
  • 고농도에서 저농도까지 안정된 Data 획득
  • 고재현성 실현


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