[Application] 금속 / 재료소재 - 금속소재, 세라믹재료, 제약, 섬유 - 미세결정 입자 및 형태, 구조 분석 반도체 / MEMS - Wafer, Bonding wire, LED, Nano tech - CNT (Carbon nano tube), Micro-pattern 국방과학 및 교육 환경 / 에너지 - Solar cell, 2차전지, 환경공학 바이오 / 의료 - Animal & Plant cell, Bacteria - Cosmetic

[Ordering Information] Cat. # 제 품 명    4500M SNE-4500M Mini-SEM 견적요청 국내 최초로 개발된 Mini-SEM (탁상형 주사현미경) 일반 현미경의 Module를 소형화한 compact design 간결하고 손쉬운 구성으로 편리성 강조 마우스활용을 이용한 배율 증감 조정 Auto-start, Focus, Spot mode 등의 자동기능 탑재 저장한 이미지를 open하여 수정할 수 있는 S/W 탑재   [주요 특징] 최대배율 100,000 배 구현 미세입자 구조 분석에 최적 Mini-SEM 유일 5-axis stage 구축 (Tilt 구현) - X, Y(40 mm), R(360º), Tilt(45º), Z(0 ~ 35 mm) Variable Aperture (30, 50, 100, 200㎛) 장착 - Beam spot size 조정으로 고분해능 영상 구현 자동화 기능 구현 - Focus, Contrast, Contrast / Brightness - Spot size, Stigmator 폭 넓은 Chamber 구성으로 다양한 Sample 분석 (option) - EDS, BSE, Motorized stage etc. 다양한 확장성 마우스 조작으로 간편하고 다양한 이미지 측정 및 분석

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SNE-4500M & MCM-200 Coater Operation

[User Interface]
사용절차 : Sample 확인[CCD 카메라] → Magnification → Focus → Contrast & Brightness                 → High Scan mode → Save 사용자(기본, 고급) 모드 구성으로 접근성이 편리하며, 화면상에서 Mouse (wheel, drag)만으로 초점, 배율, 자동이동 기능 구현 Mearsurement (길이, 면적, 각도, Text..), Archives, Image 편집 S/W, EDS Mode 기능 구성

[IMAGE EXAMPLE]
1. Particle Measurement and Characteristic Analysis
	- Industrial Powder - High Molecule, Nano Powder - Battery Electrode / Pharmaceutical and Biological
	Latex	Silicon Powder	Nano Powder	Lactic Acid Bacteria
2. Material Science and Failure Analysis
	- Metal / Plastic and Ceramic / Film - Bio-science
	Ceramic	Sea Animal	Rice	Flower's Stamen
3. Fiber Observation
	- Carbon Fiber / Glass Fiber - CNT (Carbon Nano Tube)
	Fiber	Nano Wire	Carbon Nano Tube	Fiber
4. Electronic Component Observation and Failure Analysis
	- BGA / PCB / LED / Wafer - Bonding Wire / Micro-Electronics
	Pattern	BGA Chip	Solar Cell	Wire Bonding

[Comparison of SE and BSE Image] - BSE Detector(Solid state type)
1. SE (Secondary Electron) - 2차 전자
	- 요철에 의한 정보로 이미지 형성, 주로 표면형상 관찰로 전체적인 이미지 구성에 가장 널리 사용
2. BSE (Backscattered Electron) - 후방산란(반사) 전자
	- 시편을 이루고 있는 성분(원자번호)에 의해 이미지가 형성되며 원자번호 차이가 20 이상이면   인접상의 구별이 가능함

[SPECIFICATION]
Model		SNE-4500M
Electron System
	Resolution	5 nm (30 kV, SE Image)
	Magnification	30 x ~ 100,000 x
	Acceleration voltage	5 ~ 30 kV (5 / 10 / 15 / 20 / 30 - 5 steps)
	Signal detection	Secondary electron image (SEI)
		Backscattered electron image (BSE) - option
	Observation mode	Standard mode
	Electron gun	Pre-centered tungsten filament cartridge
	Lens system	Two-stage electromagnetic condenser lens
		One-stage electromagnetic objective lens
Stage System
	Stage traverse	5-axis system   - X, Y-axis: 40 mm / R-axis: 360º / T-axis: 0 ~ 45º / Z-axis: 0 to 35 mm   - Image shift: ±150㎛
	Max. sample size	80 mm in diameter x 35 mm in height
Image System
	Frame memory	High speed mode (320 x 240): 10 frame / sec (Preview mode)  Low speed mode (640 x 480): 1 frame / sec  Photo mode 1 (1280 x 960): 1 frame / sec  Photo mode 2 (2560 x 1920): 1 frame /sec  Sampling photo mode 3 : 1 frame / sec
	Automation function	Auto start, Auto focus, Auto stigmator, Auto contrast & Brightness
	Image format	BMP, JPG, PNG, TIFF
	Data display	Magnification, Detector type, Accelerating voltage, Vacuum mode  Logo(text), Date and time, Micron marker
Vacuum System
	Vacuum mode	High vacuum system
	Vacuum pump	Rotary pump + Turbo molecular pump [Full Automation System]
Control System
	OS	Microsoft Windows® 7
	CPU	Intel® CoreTM
	Memory / HDD	4GB / 500GB
	Interface connector	USB 2.0
Dimensions and Weight
	Main unit	390(W) x 380(D) x 560(H)mm, 88kg
	Controller unit	390(W) x 325(D) x 560(H)mm, 37kg
	Rotary pump	400(W) x 160(D) x 340(H)mm, 24kg
	Installation room	Room temperature : 15℃~30℃ / Humidity : 70% or less  Electric power : Single phase 200~240 AC, 1KW, 50/60Hz