광학계 SDC (Sample Deliver Controller)

[Ordering Information] Cat. # 제 품 명    Basic S3500 Basic PSA 견적요청  High S3500 High PSA 견적요청  Standard S3500 Standard PSA 견적요청  Special S3500 Special PSA 견적요청  Extended S3500 Extended PSA 견적요청  Enhanced S3500 Enhanced PSA 견적요청 Laser Diffraction Particle Size Analyzer Microtrac사 의 독자적인 기술인 Tri-Laser System을 탑재하여 0.02 ~ 2,800 um 의 광범위한 범위 입도 측정   [주요 특징] Wide range 독자기술인 Tri-Laser system 을 이용하여, 최적의 각도에서 입자에 laser를 조사, 산란된 광을 0 ~ 160도 범위에 걸쳐 검출하여 광범위한 범위 (0.02 ~ 2,800 um) 입도측정 실현 High resolution 151개의 Detector segment (검출기) 가 면검출구조로 구성되어 128 채널의 뛰어난 resolution 및 sensitivity 의 특성을 나타냄 High accuracy   최신의 샘플순환기 SDC (sample delivery control)를 채택하여 다양한 종류의 샘플을 균일하게 분산시켜 detector로 보냄으로서, 신뢰성 있는 입도 분석 가능   측정대상 입자가 구형 (spherical), 비구형 (non-spherical) 등 입자의 형태에 따라 산관광의 패턴이 달라질지라도, 독자적인 알고리즘 해석법과 프로그램을 이용하여 정확한 입도분석 가능 Wet & Dry measurement 습식 또는 건식 샘플 모두 측정 Easy operation 운영프로그램인 Microtrac FLEX software의 SOP 을 이용하여 모든 실험조건을 제어할 수 있고, 초음파가 내장(Optional) 된 최신 샘플순환기 SDC automation control이 가능하여 샘플 투입 후 전처리, 분석, 샘플순환, 세척의 전과정을 자동화

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Particle Size Analyzer - S3500

[SPECIFICATION]
Model	Microtrac S3500 series
Method	Laser Diffraction Method (Mie Scattering)
Measuring range	0.02 ~ 2,800 um
Optical range   (Wet / Dry, um)	Basic	0.7 ~ 1,000 um	0.7 ~ 1,000 um
	High	2.75 ~ 2,800 um	2.75 ~ 2,800 um
	Standard	0.24 ~ 1,400 um	0.24 ~ 1,400 um
	Special	0.086 ~ 1,400 um	0.24 ~ 1,400 um
	Extended	0.021 ~ 2,000 um	0.24 ~ 2,800 um
	Enhanced	0.021 ~ 2,800 um	0.24 ~ 2,800 um
Laser source	Wavelength 780 nm x 3 ea (Tri-Laser system)
Power	3 mW nominal
Detection system	2개의 고정된 photo-electric detectors - 151 detector segments 으로 구성 - 0.02 to 163도의 광범위한 detection
Data handling	Volume, Number and Area distributions as well as percentile and other summary data
Sample capacity	0.05 ~ 2.0 g
Circulation system	SDC (급수-순환-세척-배수 자동화)
Dry system	Wet, dry sample 모두 측정 (optional)
Typical analysis time	10 ~ 30 sec.
Dimensions	광학계: 560 x 360 x 460 mm (W x D x H)  SDC: 165 x 305 x 424 mm (W x D x H)

[Tri-Laser System]
최적의 각도에서 서로 다른 3개의 반도체 Laser Diode (Red laser x 3ea) 이용
		S3500 은 최적화된 3개의 Laser system에 의해 큰 입자에서부터 초미립자까지 광범위한 range의 측정이 가능. 780 nm wavelength 3개의 Laser system 은  0 ~ 160도에 가까운 산란광 정보를 검출 산란된 입도 정보를 일정 각도마다 순차적으로 검출, 연산 처리하여 입도 분포 측정 151개의 detector segment로 이루어진 2개의 detector (forward detector, high angle detector) 가 전방에서 후방까지 거의 모든 각도에 걸쳐 산란광을 검출하여 정확하고 신뢰성 있는 입도분포 측정.
		1st Laser system 0 ~ 60도 까지 산란광을 연속적으로 측정 2nd Laser system 60 ~ 80도 까지 산란광을 연속적으로 측정 3rd Laser system 80 ~ 160도 까지 산란광을 연속적으로 측정

[Data Management System]
Microtrac FLEX Software
Software Interface
시료 투입시 적정량 자동 확인
	Microtrac FLEX Software 특징 자동 SOP 설정을 통한 test 조건 등을 저장, 불러오는 기능 Auto sequece 기능을 통하여 one clickㅇ로 test 자동실햄 및 완료 한국어 소프트웨어 지원 기능 재계산, 통계기능, data의 비교, 다양한 포멧의 프린팅 기능 지원
SOP (Standard Operation Processor)